多模光纖光源的環型通量 (EF) 發射一直受到標準委員會、設備供應商和用戶的歡迎。TIA 工作小組 TR42.11 啟動了大型循環法測試，這吸引了許多有興趣的參與者以及許多 IEC 和 ISO 小組委員會成員。啟動的此次循環法測試旨在檢查用于 EF 測量設備的當前狀態。有人懷疑由于 EF 是受限發射，因此 EF 設備可能不具有可降低測量不確定性的精度。數年前在 IEC SC86B 標準范圍內進行了類似測試，數據顯示被測的某些模發射設備超出了 EF 模板。如果測試時對設備進行了正確校準，就不會出現這個問題。新循環法測試的目的在于測量 EF 測量設備的變化性，并幫助進行此類型測試的人員樹立信心。循環法測試為期 19 個月。測試樣本經過了代表北美、歐洲和日本公司的 14 名參與者的評定。研究中使用過了五種不同類型的近場發射測量設備。循環法使用的測試樣本是兩個 LED 雙波長光源。由于循環法的目的是測量 EF 設備之間的差異，因此這些測試樣本本身并不代表經過校準符合 EF 的發射。

測試協議

測試期間使用的 LED 光源是包含雙波長 850/1300 nm“組合器”的生產單元。兩種光源均可配合 50 ?m 或 62.5 ?m 光纖測試線使用。光纖測試線長度為 1 米，被永久固定在光源的隔板上。用于 50 μm 和用于 62.5 μm 的儀器如測試線般安裝在平臺上。測試期間只可操作一小段測試線。測試線上安裝了用作調諧模式過濾器的多個“空轉”。對模式過濾器進行了“調諧”，以將 850 nm 設置在 EF 模板的目標上。1300 nm 響應保持在 EF 模板內，但與其目標之間存在偏差。EF 設備帶有獨立的用于 850 nm 和 1300 nm 的成像系統時會出現此情況。參與者收集了不同 EF 案例的數據：850/1300 nm 用于 50 ?m 布線，850/1300 nm 用于 62.5 ?m 布線。為了進行簡化，并且由于對 50 ?m布線數據的更多關注，此份文件只顯示了該數據。要求各參與者進行三次測量，但在最終分析時使用的是平均值。為便于控制，將光源返還至名為“參照測試臺”的原始地點，在此對其進行重新檢查、更換電池等操作。在將光源交付給參與者之前收集數據，參與者完成測量并返還光源。北美和歐洲各設有一個EF 參照測試臺。在各參照測試臺處進行的測量被用于建立基線。

目的

此次循環法測試的目標包含多個部分如前所述，主要原因是評估 EF 測試設備之間的差異。第二目標是發現測量的異常和異常值，以確定根源。第三目標是獲得 EF 測試的信心，因此將測試儀器用于現場時，我們可以感受到對網絡衰減測量的信心。第四目標是進行所有參與者測量數據平均值的不確定性分析，并為測量指定設置不確定性。

數據解釋

為了降低不明確性并排除循環法測試的樣本變化性，我們對測試結果進行了標準化。換言之，參與者的測試是相對于將樣本交付給參與者之前進行的基線測試進行的。基線測試用于以 EF 模板量級為界限建立新的 EF 目標。100% 和 -100% 界限表示 EF 上限和下限之間的范圍，不是真實值。

EFLΔ 和 EFUΔ 表示相對于 EF 目標（現已被基線測試代替）的 EF 模板量級。基線 #5 是向參與者發送樣本之前進行的測試。測試 #5 是實際的參與者測試。后測試 #5 是參與者 #5 返還樣本之后進行的測試。在此示例中，參與者 #5 保持在 EF 模板內。更多詳情參見圖 1。

圖 1 – 對比前后基線測試的測試結果

長期偏移

在循環法測試之初觀察到了樣本的偏移現象。由于在測試方法中采用了標準化測量，因偏移可能已影響到結果，因此未被包含在數據中。獨立測試表明測試線使用的 3 mm 護套出現收縮。經過數周，這種收縮在溫度升高的恒溫槽中重現。收縮使得模式過濾量多于測試樣本首次設置的過濾量。圖 2 顯示了 9 個月的期限內 EF 響應的變化。原始測試樣本被設置在位于兩個虛線中間的 EF 目標上。如果不熟悉 EF 模板，圖 2 只顯示了 20 ?m 和 22 ?m 處的模板。此區域是對使用測試設備進行的損耗測量影響最大的區域。

圖 2 – 9 個月的期限內的樣本偏移

850 nm 50 μm 測試結果為了簡明起見，此份文件中并未顯示所有數據。由于 50 ?m 布線中的 850 nm 處是最重要的區域，圖 3 顯示了此區域的所有數據。所有 14測試都被合成在一個圖片中，以顯示平均值以及基于結果分布的一測回標準偏差帶。一測回標準偏差表示，所有 EF 測量值在模板內的置信系數均為 75%。在循環法測試期間，所有參與者均在 EF 模板內。但是由于參與者之間的分布不同，因此標準偏差提高。在圖 4 中，顯示了平均值和二測回標準偏差。二測回標準偏差表示，EF 結果保持在標準偏差限值內的置信系數為 95%。注意在 20 ?m 控制點上，二測回標準偏差虛線稍稍超出了 EF 模板。這個數量表示，在布線衰減測量期間存在 1.8% 的不確定性。

圖 3 – 測試的平均值和一測回標準偏差

圖 4 – 測試的平均值和二測回標準偏差

摘要14 名參與者使用不同的 EF 測量設備對兩個 LED 光源進行了測試。各參與者均在初始基線測試的短時間內完成了測試。通過將基線設置為零對所有測試進行了標準化。在兩個地點使用了參照測試臺。觀察到較慢的 EF 響應偏移，這歸因于溫度對 3 mm 護套的影響。所有參與者均在 EF 模板內。平均 EF 結果在 EF 限值內，但由于使用了兩個西格瑪值，測試分布未被嚴格分組。使用平均 EF 值和一測回標準偏差（75% 的置信系數），所有參與者均在 EF 模板內。對于二測回標準偏差（95% 的置信系數），在一個控制點處存在另外 1.8% 的不確定性（20 ?m 用于 850 nm/50 μm）。

結論實際應用中的 EF 測量可以具有一定的合理不確定性。并且即便使用二測回標準偏差范圍和稍稍超出模板的結果，EF 也比模功率分布 (MPD)等原來的標準好很多。但是，人們肯定認為不確定性主要取決于模板目標是否符合 EF 標準。這使得他們會更加注重 850 nm 下 50 ?m 的布線方法。但此時，EF 標準不區分波長和光纖尺寸的規范和信息要求。EF 結果分布可能與校準差異、用戶技巧和不同設備類型、IEC 61280-1-4 不合規性及其他因素相關。通過更好的校準和跟蹤改善系統不確定性將使標準偏差得到改善（降低分布）。此時使用精準工件校準的 EF 設備無需依賴對國家標準實驗室的追溯。有關符合環型通量解決方案的更多信息 — 請訪問?http://www.faxy-tech.com/Products/DTX-EFM2.html

第二步：將儀器面板旋鈕調制Special Function檔位。點擊設置基準。

第三步：如果一切正常那么設置基準會顯示完成。

第四步：一旦出現測試基準不合格或者指標不對，設備本身會提出錯誤指示。詳細的量程范圍如下：當這個測試值處于以下這個量程范圍之內，變會出現以下的警告提示：Smart Remote Mode????????????DTX-MFM: -17.5 dBm to -27.0 dBm????????????DTX-GFM: -4.5 dBm to -10.0 dBm????????????DTX-SFM: -4.5 dBm to -10.0 dBm如圖：

PS：這個時候需要對設備本身進行檢測。判斷模塊的好壞，有個最簡單的辦法就是，利用獨立的一根光纖，在主機端由OUT引出，至IN插入，測試獨立的模塊的性能。

福祿克光纜模塊的優點有：

1. 隨時可用的背插式光纜模塊
2. 12 秒鐘的自動測試比現有儀器快5 倍
3. 通過LinkWare 軟件提供一級光纜認證測試報告
4. 內置的可視故障定位器（VFL）可查找光纜，驗證連通性和極性，并能發現斷點
5. 通過對講機、查找光纜、監測、雙向測試和單光纜測試等功能提高測試速度
6. 可作為福祿克網絡公司的OptiFiber 光纜認證（OTDR）分析儀的智能遠端

眾所周知，福祿克DTX1800標配光纖接頭是SC。那如何才能對不同接頭進行測試呢？例如：我需要測試LC接頭的萬兆光纖。

福祿克DTX1800 的DTX-EFM2標配連接頭為SC接頭。

如果我們需要測試LC的光纖。購買福祿克萬兆光纖跳線型號為：NFK2-DPLX-LC 50um

細心的朋友應該發現，NFK2-DPLX-LC的原裝光纖跳線的接頭類型是：2對跳線。一對中一條是：SC-LC，另一條是LC-LC。這意味著什么呢？我們DTX-EFM2的標準連接頭SC頭已經不能完全適用了。必須把DTX1800光纖模塊上的一個連接頭換成LC頭，換句話說：DTX-EFM2的模塊必須有一個是SC連接器一個是LC連接器。而標準配置是2個SC連接器。OUTPUT輸出端口是固定SC頭，不能更換，那就只能更換INPUT端口換成LC接頭。

上圖為福祿克DTX系列光纖模塊的LC轉換適配器

在福祿克DTX-1800主機的光纖模塊上更換LC適配器，就形成以下連接模型，我們就可以測試我現場工程要測試的LC連接接頭的光纖了。

方案總結：如果我們需要測試不同光纖類型，購買了福祿克原裝跳線的同時，不要忘記購買轉換適配器。具體請聯系連訊達公司。0755-83999818

本文謝絕轉載。（包括同行企業網站和分類信息網站，請某些同行自重！）

現在面臨的問題需要對光纖跳線和光纜進行測試，需要全套光纖測試方案。特委派連訊達公司對其進行測試培訓。并且購買了全套福祿克設備，包括DTX-1800，最新的DTX-EFM2多模光纖模塊和DTX-SFM2單模光纖模塊。

福祿克DTX1800 DTX-EFM2 DTX-SFM2客戶培訓場景

福祿克DTX1800 DTX-EFM2 DTX-SFM2客戶培訓PPT

通過售后培訓服務，使其對光纖測試有了全面的了解。

品質部吳主管說：“連訊達是我們長期的合作伙伴，此次為我們提供了光纖跳線解決方案以及光纜的測試解決方案，通過與連訊達的合作我們對我們的光纖線材可以進行嚴格的品質測試把控，確保用戶拿的光纖都是高性能的。”

線纜廠品保部-吳主管和連訊達工程師合影

Anyone who’s ever tested a multimode fiber optic link with light sources from different equipment?vendors will know that the loss measurement can vary by as much as 50 percent.若未進行適當控制，則多模光源會以不同的方式將光注入多模光纖。?即使采用同一制造商生產的光源，但在不同的發射條件下也會產生不同的鏈路損耗測量結果，最終出現不同的 — 并且通常令人困惑的 — 測試結果。

Overfilling tends to produce link-loss measurements that are inappropriately high and under filling tends to generate loss measurements that are optimistic in regards to the loss that will occur in the cabling once it is operational.?不同類型的光源會有不同的發射條件。例如：發光二極管 (LED) 會使多模光纖過多填充模式組，而激光又未使光纖填充足夠的模式組。

這些有缺陷的結果最終會影響布線基礎設施的性能，并且會造成數據中心和其它依靠光纖布線連接組件的環境方面的嚴重問題。

當考慮到網絡技術已經進步并且損耗預算已經減少時，這就有些雪上加霜了。為了滿足緊縮的損耗預算，必須最大限度地減少測試不確定性。因此，新型高性能寬帶業務應用程序就成了現場測試儀器進行更準確和可重復進行多模衰減測量所需的動力。

行業專家認為有必要減小發射條件偏差，這在測試 1 GB 或更高多模光纖時顯得尤為必要。

那么，解決方案是什么呢？答案是利用一種稱為環形通量 (EF) 的標準，這是一種對以往方法所作的重大改進。環形通量 (EF) 是一種分析多模光源（例如： LED 或激光）啟動條件的方法。它是在光源將光照射入多模光纖時光纖芯徑內的功率百分比，并且它是通過近場測量來自連接測試儀器的參考等級測試線端的光確定的。

EF 標準可以將損耗測量的偏差減少至 +/- 10%。與以前允許高達40% 偏差的標準相比，EF 標準在多模測試的準確性和可重復性方面有了大幅改善。因此，需要進行線纜認證以及批準布線保證的相關組織和人員已經開始要求遵守這一新標準。

目前有可用于現場測試的環形通量 (EF) 解決方案。它們被稱作“發射控制器”，是與模式調節器一起安裝的特制測試級參考線。發射控制器的工作原理是在 EF 技術指標范圍內限制測試線發射的模式組數量。這樣可確保根據標準，結果測量是精確且可重復的。

是否達到環形通量 (EF) 標準由測試儀器供應商確認，它們使用專門的實驗室設備對多模光纖內包含的不同模式之間的功率分布直接進行測量。

測量包括使用視頻和處理方法，分析測試線端的近場分布。圖像會轉變為數據和圖解說明。可以在選定的 EF 限值范圍內繪圖，以檢查其是否合規。

The Telecommunications Industry Association (TIA) and?International Electrotechnical Commission (IEC) standards bodies both have documents that describe the requirements for EF.

EF 在將多模鏈路損耗測量縮小至 10% 偏差目標方面是一個重大進步。它將改善諸如模態功率分布和耦合功率之類的舊方法。由于符合 EF 標準的測試儀器會為認證測試提供最可靠的結果，因此網絡工程師和設計師需要更新他們的測試技術指標，以要求使用符合 EF 標準的光源。

值得高興的是Fluke Networks ?今年已經推出Fluke DTX–EFM2 環型通量多模光纖模塊 ?配合DTX-1800我們就可以實現測試環境了。

相關閱讀光纖環型通量 (EF) 測量白皮書：http://m.i3803.com/archives/ef.html